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  • 800G光模块的常见类型及问题

    2026-07-14 0

          800G光模块有多种类型,基于单通道速率,800G光模块大致可分为单通道100G和200G两类。其中,单通道100G光模块相对更容易实现,而200G光模块对光器件的要求更高,需要变速箱进行 ······

  • 高温反偏(HTRB)测试方法和失效机理

    2026-07-07 0

             HTRB(High Temperature Reverse Bias ,高温反偏)可靠性测试是一种加速寿命试验,通过温度应力和电应力双重应力加速器件终端老化,激发功率半导体器件设计或 ······

  • 聚焦高温封装器件:极限温度循环可靠性测试

    2026-07-06 0

           在深空探测、超深井石油勘探及航空等极端环境中,电子器件需长时间承受超过200℃的高温环境,传统封装器件在此严苛环境下,容易出现键合失效、材料退化等问题。高温封装器件在航空、石油勘探、深空 ······

  • 高低温冲击气流仪在AI 算力芯片可靠性测试中的优势

    2026-07-06 0

            当前我国正推进 AI 算力体系化突破,加速构建自主可控算力底座。国产算力芯片普遍具备超高集成度、高功耗、多层先进封装特征,算力运行长期面临功耗墙、带宽墙双重约束,让 GPU、HBM、C ······

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