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HTOL(高温工作寿命测试)与HAST设备协同解决方案
2026-07-28 0
HTOL测试核心目标: 作为AEC-Q100标准B组(加速生命周期模拟测试)的核心项目(B1项),HTOL测试旨在评估芯片在长期高温运行下的可靠性,主要实现以下目标: 1、模拟长期服役状态: 利 ······
为什么芯片研发过程中需要做HAST测试?
在芯片研发过程中进行HAST(Highly Accelerated Stress Test,高加速应力测试)测试,是确保芯片在恶劣环境下长期可靠性的关键步骤。 HAST全称为Hi ······
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