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成都中冷低温科技有限公司

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低温设备的研发;软件开发及技术咨询、技术服务、技术转让；计...

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HAST高加速老化测试箱 半导体芯片BiasHAST测试

参考价:   ¥1.11万/台

库存量:   999台

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罗林波 （先生）
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产品参数

产品名称：HAST高加速老化测试箱 半导体芯片BiasHAST测试

外形尺寸 970*710*1700mm 标称腔室容积 Φ420mm*657mm
重量 260kg 操作模式 程序模式、定值模式
测试温度 105.0℃-150.0℃ 湿度范围 65-100%RH
温度精度 ±0.5℃ 价格 页面价格仅供参考，具体请联系报价
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  • 公司名称：成都中冷低温科技有限公司
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  • 地区：四川省/成都市/郫县
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