|
应用于红外测温或红外成像或监控、遥测等光学系统 |
|||
|
技术要求 |
商业级 |
精密级 |
高精密级 |
|
尺寸范围 |
1-600mm |
2-600mm |
2-600mm |
|
直径公差 |
土0.1mm |
土0.025mm |
土0.01mm |
|
厚度公差 |
土0.1mm |
土0.025mm |
土0.01mm |
|
中心偏差 |
±3′ |
±1′ |
±30′′ |
|
表面质量 |
60-40 |
40-20 |
20-10 |
|
表面精度 |
1.0λ |
λ/10 |
λ/20 |
|
镀 膜 |
8-12μm T >95% |
||
|
倒 边 |
0.1-0.5mm*45° |
||
|
材 料 |
单晶硅 |
||
| 直径8 | 焦距9 | 厚度1.1 | 材料单晶硅 |
