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应用于红外测温或红外成像或监控、遥测等光学系统 |
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技术要求 |
商业级 |
精密级 |
高精密级 |
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尺寸范围 |
1-600mm |
2-600mm |
2-600mm |
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直径公差 |
土0.1mm |
土0.025mm |
土0.01mm |
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厚度公差 |
土0.1mm |
土0.025mm |
土0.01mm |
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中心偏差 |
±3′ |
±1′ |
±30′′ |
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表面质量 |
60-40 |
40-20 |
20-10 |
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表面精度 |
1.0λ |
λ/10 |
λ/20 |
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镀 膜 |
8-12μm T >95% |
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倒 边 |
0.1-0.5mm*45° |
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材 料 |
单晶硅 |
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| 直径8 | 焦距9 | 厚度1.1 | 材料单晶硅 |







