特性分析、高低温温变测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验，如：
半导体芯片、SOC
闪存Flash/EMMC
PCBs、IC器件、MCMs、小型模块组件
光通讯（如收发器 Transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等）
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产品名称：TS-760发光器件高低温测试仪器
详细信息 应用
特性分析、高低温温变测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验，如： 半导体芯片、SOC 闪存Flash/EMMC PCBs、IC器件、MCMs、小型模块组件 光通讯（如收发器 Transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等） 联系方式
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